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Fisher测厚仪 XAN 镀层测厚仪

2021-06-05 10:4412250已售
价格:¥101.00/台
测量方法:X射线
产地:德国
起订:1台
供应:21台
发货:1天内
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测量方法 X射线
产地 德国
电压 12V
类型 镀层测厚仪
适用范围 金属镀层测厚
外形尺寸 802-800-601
重量 120
屏幕色彩 彩色
品牌 菲希尔
质量认证 ROHS

德国菲希尔XDL / XDLM / XDAL系列测厚仪

凭借电机驱动(可选)与自上而下的测量方向,XDL? 系列测量仪器能够进行自动化的批量测试。提供 X 射线源、滤波器、准直器以及探测器不同组合的多种型号,从而能够根据不同的测量需求选择适合的 X 射线仪器。

特性:
  • X 射线荧光仪器可配备多种硬件组合,可完成各种测量任务
  • 由于测量距离可以调节(可达 80 mm),适用于测试已布元器件的电路板或腔体结构的部件
  • 通过可编程 XY 工作台与 Z 轴(可选)实现自动化的批量测试
  • 使用具有高能量分辨率的硅漂移探测器,适用于测量薄镀层(XDAL 设备)

    应用:

    镀层厚度测量
    • 大型电路板与柔性电路板上的镀层测量
    • 电路板上较薄的导电层和/或隔离层
    • 复杂几何形状产品上的镀层
    • 铬镀层,如经过装饰性镀铬处理的塑料制品
    • 氮化铬 (CrN)、氮化钛 (TiN) 或氮碳化钛 (TiCN) 等硬质涂层厚度测量

      材料分析
      • 电镀槽液分析
      • 电子和半导体行业中的功能性镀层分析

        Fisher测厚仪 XAN 镀层测厚仪

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