品牌:美国博曼Bowman、牛津仪器 Oxford
测量范围:0.0125--30μm
计量单位:台
起订:1台
供应:40台
发货:30天内
| 测量范围 | 0.0125--30μm |
|---|---|
| 计量单位 | 台 |
| 类型 | 激光测厚仪 |
| 品牌 | 牛津仪器Oxford |
| 型号 | X-Strata920 |
| 加工定制 | 否 |
镀层膜厚仪、膜厚测试仪、电镀膜厚仪X-Strata920 介绍
牛津镀层膜厚仪X-Strata920：无损测厚仪，X射线荧光镀层测厚仪，是PCB、FPC、LED、SMT、联接器、支架和封装、五金产品（螺栓、螺钉类等紧固件）、端子、汽车零部件、卫浴洁具等行业的生产商、供应商重要的检测工具；也被众多的高校、检测中心所使用。是牛津仪器经过多年的酝酿，最新发布的新一代镀层测厚仪；是CMI900的升级换代产品；在CMI900基础上，改进了系统安全部件、系统软件进行了更新、测量结果进行多样化的输出,是X射线荧光(XRF)镀层测厚仪；具有非破坏、非接触、无损测量；一键定焦，有效避免人为操作误差；操作简单，测量仅需三个步骤；快速简洁，耗时10秒即可得出测量结果。是质量控制、节约成本最佳的检测工具。
X-Strata920系列X射线荧光镀层测厚仪是大型台式分析仪器，在各行业的称谓各不相同，分别如下：
- 五金行业：膜厚仪、膜厚测试仪、电镀测厚仪、电镀层测厚仪、电镀膜厚仪、无损膜厚仪、X射线膜厚仪；
- PCB行业：镀层测厚仪、金镍测厚仪、金银测厚仪、镀层测厚仪、X-Ray测厚仪、X射线荧光镀层测厚仪、X-Ray膜厚仪、X射线膜厚仪、金镍膜厚仪、金银膜厚仪；
- LED支架行业：支架膜厚仪、支架镀层测厚仪、支架功能区测厚仪、银层测厚仪；
- 其他行业：连接器膜厚仪、金厚测量仪、无损镀层测厚仪，大型膜厚仪，台式镀层测厚仪，金属镀层测厚仪。
牛津镀层膜厚仪X-Strata920工作原理：
- 对被测样品发射一束一次X射线，样品的原子吸收X射线的能量后被激发并释放出二次X射线。每个化学元素会释放出特定能量的X射线。通过测量这些释放出的二次X射线的特征能量和强度，X射线分析仪就能够对被测材料的镀层厚度和成份提供定性和定量分析。
牛津镀层膜厚仪X-Strata920的配置：
- X-Strata920测试主机（含X射线激发系统、工作样品台、准直器、安全系统等）
- 联想ThinkCentre计算机（原IBM，与测试主机一一对应）------Windows7中文版、Smartlink FP分析软件包
- 17吋戴尔Dell液晶显示器
- 佳能Canon彩色喷墨打印机
- 标准片组件（满足镀层需要）
牛津镀层膜厚仪X-Strata920的X射线激发系统：
- 垂直下照式X射线光学系统，
- 牛津仪器空冷式微聚焦型X射线管，Be窗，50W(4--50kV,0--1.0mA)
- 安全防射线光闸
- 二次X射线滤光片
牛津镀层膜厚仪X-Strata920的工作样品台依据功能分半自动样品台（固定台、加深台）和全自动样品台。
1、固定样品台：
· Z轴自动控制，移动行程：43mm (1.7")，XY轴手动控制
· 样品台高度固定，测量最大样品高度33mm
· 仪器外形尺寸（宽×深×高）：407×770×305mm（不含电脑和显示器）
2、加深样品台：
· Z轴自动控制，移动行程：43mm (1.7")，XY轴手动控制
· 样品仓抽屉式设计，4个位置上下可调，每格高度25.4mm
· 最大样品高度160mm
· 样品仓内部尺寸（宽×深×高）：279×508×152mm
· 仪器外形尺寸（宽×深×高）：407×770×400mm(不含电脑和显示器)
3、自动样品台:
- Z轴自动控制，移动行程：43mm (1.7")，XY轴自动控制
- 可提供对样品的自动和编程控制，多点测量
- 鼠标控制样品台移动，精确地定位样品测量点
- 测量模式：随机模式、线性模式、梯度模式、扫描模式、重复测量模式
- 样品台移动行程：178×178mm
- 样品台尺寸：宽610×深560mm
- 最大样品高度33mm
- 仪器外形尺寸：宽610×深1037×高375mm(不含电脑和显示器)
牛津镀层膜厚仪X-Strata920的准直器可配置单准直器，也可配置多准直器，准直器且有圆形、方形、矩形之分，同时有多种规格可选；依据被测产品进行选择。准直器规格如下：
圆形
mil
4
6
8
12
13
20
mm
0.102
0.152
0.203
0.305
0.33
0.508
矩形
mil
1x2
2x2
0.5x10
1x10
2x10
4x16
mm
0.025x0.05
0.05x0.05
0.013x0.254
0.254x0.254
0.051x0.254
0.102x0.406
牛津镀层膜厚仪X-Strata920的工作特点：
- 测量元素范围：钛Ti22---铀U92；
- 测量5层（4层镀层+底材层）镀层，同时分析15种元素，自动修正X射线重叠谱线；
- 测量精度高、稳定性好，测量结果精确至μin；
- 快速无损测量，测量时间短，10秒内得出测量结果；
- 可分析固体、溶液；定性、半定量和定量分析；
- 进行贵金属检测，如Au karat评价；
- 材料鉴别和分类检测，材料和合金元素分析，元素光谱定性分析；
- 强大的数据统计、处理功能：平均值、标准偏差、相对标准偏差、最大值、最小值、数据变动范围、数据编号、CP、CPK、控制上限图、控制下限图，数据分组、X-bar/R图表、直方图；
- 结果输出：直接打印或一键导出到PDF、Excel文件；报告包含数据、图像、统计图表、客户信息等；
- 测量位置预览功能；高分辨率彩色CCD样品观察系统，标准光学放大倍数为30倍；
- 激光对焦和自动对焦功能；单击鼠标，Z轴自动扫描，镭射聚焦；
- 拥有NIST认证的标准片；
- 提供全球服务及技术支持。
牛津镀层膜厚仪X-Strata920的售后服务：
· 仪器自购买后均享有自安装之日计起12月的免费保养期。
- 对被测样品发射一束一次X射线，样品的原子吸收X射线的能量后被激发并释放出二次X射线。每个化学元素会释放出特定能量的X射线。通过测量这些释放出的二次X射线的特征能量和强度，X射线分析仪就能够对被测材料的镀层厚度和成份提供定性和定量分析。
