| 最小移动距离 | 1微米 |
|---|---|
| 位移重复精度 | 4um以内 |
| 测量范围 | 8~2900HV |
| 产品类型 | 显微硬度计 |
| 重量 | 70 |
| 发货期限 | 7 |
| 品牌 | 特视 |
| 型号 | THVS-1MDX-AXYZF 全自动维氏/显微硬度计 |
| 加工定制 | 是 |
| 试验力 | 10gf -1kgf |
| 允许最大高度 | 160 |
THVS-1MDX-AXYZF高级自动维氏/显微硬度计由带自动旋转塔台的触摸屏维氏/显微硬度计和THVS-MDX-AXYZF自动控制、测量及数据图像处理系统组成。硬度计主机可配THV-1MDX、THV-30MDX、THV-50MDX。
产品介绍:
通过内置步进马达控制的X-Y轴自动位移台, 透过鼠标点击控制,定位精度高, 重复精度好, 移动速度快, 工作效率高。
Z轴自动升降,自动聚焦。
软件系统可控制自动载物台进行编程移动,多种测量模式可供选择,特别适用于渗碳、渗氮层深的测量。
所有数据永久保存,可自动生成检验报告。
技术参数:
| 型号 | THVS-1MDX-AXYZF |
| 硬度计主机 | |
| 试验力 | 10gf (0.098N)、25gf (0.245N)、50gf (0.49N)、100gf (0.98N)、 200gf (1.96N)、300gf (2.94N)、500gf(4.9N)、1kgf (9.8N) |
| 符合标准 | GB/T4340,ASTM E92 |
| 最小测试单位 | 0.01μm |
| 转换标尺 | HRA、HRB、HRC、HRD、HRF、HV、HK、HBW、HR15N、HR30N、HR45N、HR15T、HR30T、HR45T |
| 硬度测试范围 | 8~2900HV |
| 试验力施加方法 | 自动(加荷、保荷、卸荷) |
| 物镜、压头转换 | 自动 |
| 测量目镜 | 10X |
| 物镜放大倍率 | 10X(测试)、40X(测试)(20X可选) |
| 试验力保荷时间 | 0~99s |
| 压头到机壁距离 | 100mm |
| 数据输出 | LCD显示 |
| 数据存储 | 测量值以EXCEL格式保存在U盘中 |
| 电源 | AC220V+5%,50-60Hz |
| 软件 | |
| 摄像头 | 130万像素 |
| 驱动马达 | 步进马达 |
| 自动样品台移动 | 通过软件在X-Y轴向上移动速度可灵活的改变。可通过鼠标点击界面中任意点自动选点,可进行直线开始位置的设定和随机移动位置设定,通过鼠标点选对自动X-Y位移台载物台进行8个方向任意移动的控制,可调整速度、可自动复位。 |
| 尺寸 | 100 × 100mm |
| 最大移动距离 | 在X-Y轴方向25 × 25mm |
| 最小移动距离 | 1mm |
| 移动速度 | 1-10mm/sec,可调 |
| 位移重复精度 | 4um以内 |
| 模式设置 | 软件系统可控制自动载物台进行编程移动,可进行: 1)测量模式(Random A) 使用这个模式打压和读取一个任选点。 2) 进行横向(X轴方向), 纵向(Y轴方向)的打压和读取 3)测量模式(Line Set A) 使用这个模式打压和读取和表面成一定角度的方向(Z字形移动,即硬化层深度测量的折线移动)。 4)测量模式(Line Set B) 使用这个模式进行固定间隔的打压和读取。 5)轨迹坐标移动等移动编程方式 |
| 测试过程 | 全部加载后逐个测量,边加载边测量 |
| 压痕测量方式 | 自动/手动 |
| 自动测量时间 | 约0.3sec/1个压痕 |
| 硬度值修正 | 可按照标准硬度块或长度标尺进行修正 |
| 数据输出 | 可按用户要求定制检验报告 通过数据处理软件,在试样连续测量后形成的硬化层深度值可以以表格形式显示 可方便输出各种测量数据、硬度值表、硬化层深度、最大值、平均值、最小值等 |
标准附件:
| 名称 | 数量 | 名称 | 数量 |
| 砝码轴 | 1根 | 砝码 | 6个 |
| 10X测试目镜 | 1个 | 显微硬度块(高块、低块) | 各1块 |
| 台式电脑 | 1台 | 自动软件 | 1套 |
| X-Y自动样品台 | 1个 | 控制柜 | 1个 |
| 万向夹具 | 1个 | 压平器 | 1个 |
| 十字试台 | 1个 | 平口夹持台 | 1个 |
| 薄片夹持台 | 1个 | 细丝夹持台 | 1个 |
| 小水平仪 | 1个 | 水平调节底脚 | 4只 |
| U盘 | 1个 | 触屏笔 | 1个 |
| 电源线 | 1根 | 备用保险丝(2A) | 2根 |
| 产品合格证、保修卡 | 1份 | 说明书 | 1份 |
软件界面:

标准试样自动测量硬度值界面

长度测量界面

角度测量界面



