测量范围 | Na-U |
电源 | AC 220V±10%,50HZ |
工作湿度 | 30%-80% |
工作温度 | 15℃-30℃ |
外形尺寸 | 660mm x 480mm x 330mm |
重量 | 60 |
准确度 | 1 ppm |
品牌 | 德谱仪器 |
型号 | DX-320 |
DX320L 镀层测厚仪的详细资料:
性能优势介绍 针对DX320L在各个领域的广泛应用,根据优化产品性能和提高安全防护等级的需求,特别设计该款DX320L。应用新一代的高压电源和X光管,提高产的可靠性;利用新X光管的大功率提高仪器的测试效率; 集合了多年ROHS检测经验,应用新一代全球**先进,分辨率**高的电制冷SDD半导体探测器,对六种有害元素尤其是Br、Cl等卤素进行了优化,提高仪器测试的稳定性和精度性。 性能特点: 工作曲线:提供开放性工作曲线功能,根据企业物料情况量身定做**好的有害元素检测和控制方案; 准直器和滤光片:多种准直器和滤光片的电动切换,满足各种测试方式的应用实现了全自动一键测试。 移动平台:精细的手动移动平台,方便定位测试点 高分辨率探测器:采用全球**先进,分辨率**高的电制冷SDD半导体探测器,更有利于仪 器的稳定性和精度性 新一代的高压电源和X光管:性能稳定可靠,高达150W的功率实现更高的测试效率安全性能:全光路射线防护系统配合经典的三重安全防护设计,同时采用软、硬件双重安全连锁,确保辐射安全性能; 主要技术参数: 型号:DX-320L 测试对像:粉未、固体、液体 元素分析范围:钠(Na)—铀(U) 含量分析范围:1PPM—99.99% 测量时间:30—200秒 探测器:电制冷SDD半导体探测器 仪器分辨率:127eV±5 **低检出限:Cd/Cr/Hg/Br≤ppm Pb/Sb/Se/Ba≤2ppm CL≤5ppm 多道分析器:2048道 输入电压:AC 220V±10%,50HZ(建议配稳压电源) 额定功率:300W(带电脑) 环境湿度:30%--80% 外型尺寸:660mm×480mm×330mm 测量仓:440mm×350mm×150mm 标准配置: 高低压电源(美国Spellman进口) 大功率X光管(英国Oxford牛津进口) 电制冷半导体探测器(美国AMPTEK进口) 多道分析器(美国进口) 控制电路 高压单元 移动样品台 高清晰CCD 准直器:含Ф8.0mm、Ф6.0mm、Ф2.0mm、Ф1.0mm、Ф0.5mm、Ф0.2mm各一个 滤光片:5组滤光片 计算机:品牌商务电脑(内存2G、硬盘200G),17寸液晶显示器 打印机:彩色喷墨打印机
应用范围: RoHS检测分析 地矿与合金(铜合金、锌合金、镁合金、钛合金、钴合金、不锈钢等金属样品的成分等)成分分析 金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定 黄金,铂,银等贵金属和各种首饰的含量检测 |
镀层测厚
一次可同时分析**多24个元素,五层镀层。
分析检出限可达2ppm**薄可测试0.005μm。
分析含量一般为2ppm到99.9% 。
镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同)
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互独立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
多次测量重复性可达0.1%
长期工作稳定性可达0.1%