• 镀层测厚仪/重金属检测仪/贵金属分析仪
  • 最后更新:2021-06-04 19:56信息编号:33611浏览次数:1052次浏览
  • 产品价格:130000.00 元/套
  • 起订数量:1 套
  • 供货总量:254 套
  • 产品品牌:德谱仪器
  • 测量范围:Na-U
  • 电源:AC 220V±10%,50HZ
  • 发货地址:广东 深圳市
  • 发货期限:自买家付款之日起 10 天内发货
  • 有效期至:长期有效
公司基本资料信息
新版预留
    详细说明
测量范围 Na-U
电源 AC 220V±10%,50HZ
工作湿度 30%-80%
工作温度 15℃-30℃
外形尺寸 660mm x 480mm x 330mm
重量 60
准确度 1 ppm
品牌 德谱仪器
型号 DX-320

DX320L 镀层测厚仪的详细资料:

性能优势介绍
      针对DX320L在各个领域的广泛应用,根据优化产品性能和提高安全防护等级的需求,特别设计该款DX320L。应用新一代的高压电源和X光管,提高产的可靠性;利用新X光管的大功率提高仪器的测试效率; 集合了多年ROHS检测经验,应用新一代全球**先进,分辨率**高的电制冷SDD半导体探测器,对六种有害元素尤其是Br、Cl等卤素进行了优化,提高仪器测试的稳定性和精度性。

性能特点:
工作曲线:提供开放性工作曲线功能,根据企业物料情况量身定做**好的有害元素检测和控制方案;
准直器和滤光片:多种准直器和滤光片的电动切换,满足各种测试方式的应用实现了全自动一键测试。
移动平台:精细的手动移动平台,方便定位测试点
高分辨率探测器:采用全球**先进,分辨率**高的电制冷SDD半导体探测器,更有利于仪 器的稳定性和精度性
新一代的高压电源和X光管:性能稳定可靠,高达150W的功率实现更高的测试效率安全性能:全光路射线防护系统配合经典的三重安全防护设计,同时采用软、硬件双重安全连锁,确保辐射安全性能;

主要技术参数:
型号:DX-320L
测试对像:粉未、固体、液体
元素分析范围:钠(Na)—铀(U)
含量分析范围:1PPM—99.99%
测量时间:30—200秒
探测器:电制冷SDD半导体探测器
仪器分辨率:127eV±5
**低检出限:Cd/Cr/Hg/Br≤ppm Pb/Sb/Se/Ba≤2ppm CL≤5ppm
 多道分析器:2048道
输入电压:AC 220V±10%,50HZ(建议配稳压电源)
额定功率:300W(带电脑)
环境湿度:30%--80%
外型尺寸:660mm×480mm×330mm
测量仓:440mm×350mm×150mm

 标准配置:
高低压电源(美国Spellman进口)
大功率X光管(英国Oxford牛津进口)
电制冷半导体探测器(美国AMPTEK进口)
多道分析器(美国进口)
控制电路
高压单元
移动样品台
高清晰CCD
准直器:含Ф8.0mm、Ф6.0mm、Ф2.0mm、Ф1.0mm、Ф0.5mm、Ф0.2mm各一个
滤光片:5组滤光片
计算机:品牌商务电脑(内存2G、硬盘200G),17寸液晶显示器
打印机:彩色喷墨打印机


应用范围:
RoHS检测分析
地矿与合金(铜合金、锌合金、镁合金、钛合金、钴合金、不锈钢等金属样品的成分等)成分分析
金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定
黄金,铂,银等贵金属和各种首饰的含量检测

镀层测厚
一次可同时分析**多24个元素,五层镀层。
分析检出限可达2ppm**薄可测试0.005μm。
分析含量一般为2ppm到99.9% 。
镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同)
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互独立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
多次测量重复性可达0.1%
长期工作稳定性可达0.1%

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