• XH230涂层测厚仪**】
  • 最后更新:2021-06-05 09:38信息编号:34747浏览次数:771次浏览
  • 产品价格:10500.00 元/台
  • 起订数量:1 台
  • 供货总量:10000 台
  • 产品品牌:系和
  • 加工定制:
  • 类型:薄膜测厚仪
  • 发货地址:上海
  • 发货期限:自买家付款之日起 天内发货
  • 有效期至:长期有效
公司基本资料信息
新版预留
    详细说明
加工定制
类型 薄膜测厚仪
测量范围 XH230涂层测厚仪(mm)
显示方式 XH230涂层测厚仪
电源电压 XH230涂层测厚仪(V)
外形尺寸 XH230涂层测厚仪(mm)
额定电压 220V
品牌 系和
型号 XH230涂层测厚仪

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产品名称:XH230涂层测厚仪
详细说明:

一、产品简述:

XH230本仪器是一种超小型的测量仪,它能快速、无损伤、精颏地进行非磁性金属基体上非导电覆层厚度的测量。可广泛用于制造业、金属加工业、商检等检测领域。由于该仪器体积小,测头与仪器一体化,特别适用于工程现场测量。
二、主要功能:
  可进行零点校准及二点校准。
  可对测头进行基本校准。
  设有五个统计量:平均值(MEAN**大值(MAX**小值(MIN)、测试次数(NO)、标准偏差(S.DEV)。可存贮和统计计算15个测量值。
  具有两种测量方式:连续测量方式(CONTINUE)和单次测量方式(SINGLE)。
  自动关机功能。
  删除功能:对测量中出现的单次可疑数据进行删除,也可删除存贮区内的所有数据,以便进行新的测量。
  操作过程有蜂鸣声提示。
  有欠压指示功能。
  有错误提示功能。

 

 

 

 

 

 

XH220

XH230

XH240

XH260

测量原理

磁性法

涡流法

涡流测厚法

磁性和涡流两种测厚方法

测量范围

1~1250μm

1~1250μm

0~1250um

0—1250μm

测量精度

±(3%H+1)μm(零点校准)

:±(3%H+1.5)μm(零点校准)

 

0.1μm(测量范围小于100μm)1μm (测量范围大于100μm)

待测基体**小曲率半径(mm)

 

 

凸3

 

基体**小面积的直径(mm)

 

 

Φ5

 

低限分辨力(μm)

 

 

0.1

 

示值误差(μm)

 

 

零点校准±(3%H+1.5) 二点±[(1%~3%)H+1.5]校准

 

 

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