涂层测厚仪可无损伤、精密地进行涂、镀层厚度的测量。既可用于实验室，也可用于工程现场。本仪器能广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。是材料检测专业必备的仪器。

 

 

 

 

  具有自动统计功能：平均值（MEAN）、最大值（MAX）、最小值（MIN）、测试次数（NO．）、标准偏差（S．DEV）；

存储功能：可存2类工件，每类26组，每组15个，共1560个测值；

删除功能：删除存储区内的所有数据，以便进行新的测量；

技术参数

1、测量范围

0～1250um或0～50mil

2、示值精度

± [(1%～3%)H+1um]（注：H是厚度读数 ）

3、最小测量曲率

    凸半径：5mm；凹半径：25mm

4、基体厚度

   最小厚度：0.5mm

5、测量面积

   最小测量面：Φ15mm

 

 

 

 

操作详解

1、 开机/关机

按操作键“开关”键 。

2、基体校零/返回

按校正键进行零点校正。注：（在测零点不稳、测值不准时进行零点校正）。校正键也是返回键。（进入菜单后，可按校正键返回）

3、基本校正

   1、第一步；按菜单键进入菜单，按éê选择“校正”，按菜单键进入基体选择界面，选择铁基或非铁基后，按菜单键确认进入0点校正状态；

   2、第二步；把探头垂直放在标准基体中心按住不动；听到提示声后2秒再拿开。进入下一界面；

   3、第三步；现界面显示“第1试片”，把最小值（48.5um）试片放在标准基体上，用探头垂直放在第1试片上按住不动，等显示完成后2秒再拿开。显示“真

实厚度（0049.4um）”，按菜单键向右移动、按éê键加减修改“（0049.4 um）”，改成所测试片真实值“（0048.5 um）”按菜单进入下一界面；

  4、第四步；显示“第2试片”，把“第1试片”移开，放（99.8um)试片在标准基体上，用探头垂直放在第2试片上按住不动，等显示完成后2秒再拿开。显示“真实厚度（0096.7um）”，按菜单键向右移动、按éê键加减修改“（0096.7 um）”，改成所测试片真实值“（0099.8um）”按菜单进入下一界面；

   5、第五步；用“第四步”方法完成“第3试片（249um)、第4试片(513um)、第5试片(1024um)”真实值校准．

第六步；第5试片完成后会显示“请稍等...”，约5秒后会回到开机时初始键面，等3秒后再测标准基体，测标准基体后校零，确保测标准基体为0后再测试片（不然测值不精确）。这样基本校准完成．

4、单位转换

按菜单键进入功能选项，按éê键选择“单位制式”按菜单键进入，按éê键选择um/mil按菜单键确认。

5、存储设置

存储功能可以根据需要进行设置，如果把自动存储功能设置为“开”，那么在成组方式下，当测试次数达到15个测量值的时候，仪器自动把本组测量值保存，并清除本组测量次数，以便进行下一组测量，如果把自动存储功能设置为“关”，仪器就不对测量值进行保存，这样可以满足不同的测量要求。

6、删除

按“菜单”键，操作éê键选择“存储设置”，按“菜单”键进入，选择“删除数据”后按“菜单”键进入选项，操作éê键选择“是”后，按“菜单”键确认，可删除成组方式中的所有测量值。

7、统计

本仪器对测量值自动进行统计处理，它需要至少三个测量值来产生5个统计值：平均值（MEAN）、标准偏差（S.DEV）、测试次数（No.）、最大测试值（MAX）、最小测试值（MIN）。

参加统计包括关机前的测量值均参加统计计算。

注意：当存满15个数据时，尽管测量能继续，但不能修改统计值。需要时，可清除内存单元，在再进行新的测量

查看显示统计值

当测量次数达到3次及以上时，按“菜单键”进入菜单，通过éê箭头选择“统计”按“菜单”键确认以后将显示5个统计值

8、仪器标识

  按“菜单”键，操作éê键选择“仪器标识”，按“菜单”键进入。可查看仪器编号。按“菜单”键确认退出。