MC-2000C涂层测厚仪产品简介

MC-2000C型涂层测厚仪（镀层测厚仪），是高新技术的结晶,它采用单片机技术，精度高、数字显示、示值稳定、功耗低、操作简单方便、触摸按键、单探头全量程测量、体积小、重量轻；且具有存储、读出、统计、低电压指示、系统校准，其性能达到当代国际同类仪器的先进水平。

MC-2000C涂层测厚仪应用范围

涂层测厚仪仪器采用磁性测厚法，可以方便无损地测量铁磁材料上非磁性涂层的厚度，如钢铁表面上的锌、铜、铬等镀层或油漆、搪瓷、玻璃钢、喷塑、沥青等涂层的厚度。该仪器广泛应用于机械、汽车、造船、石油、化工、电镀、喷塑、搪瓷、塑料等行业。

技术参数：MC-2000C涂层测厚仪工作原理

 MC-2000C型涂镀层测厚仪采用电磁感应法测量涂镀层的厚度。位于部件表面的探头

产生一个闭合的磁回路，随着探头与铁磁性材料间的距离的改变，该磁回路将不同程度的改变，引起磁阻及探头线圈电感的变化。利用这一原理可以精确地测量探头与铁磁性材料间的距离，即涂镀层厚度。

MC-2000C涂层测厚仪产品特点

轻松读取：可存入测量数据600个，对测量中的单个可疑数据进行删除，也可以删除存储区内的所有数据，读出已存入的测量数据。

1、测量范围：

MC-2000 A 型测量范围：0-1200um
MC-2000 C 型测量范围：0-5000um
MC-2000 D 型测量范围：10-9000um 
可订做管道内涂（镀）层测头，30mm管径以上

2、测量误差：    <3%±1um

3、最小示值：    1um

4、显示方式： 4位液晶数字显示

二、MC-2000C涂层测厚仪产品性能

1、测量范围：    0～5000um

2、测量误差：    <3%±1um

3、最小示值：    1um

4、显示方式：    4位液晶数字显示

5、主要功能：

   (1).测量：       单探头全量程测厚

   (2).存储、删除： 可存入测量数据600个，对测量中的单个可疑数据进行删除，也可以删除存储区内的所有数据。

   (3).读：   读出已存入的测量数据

   (4).统计： 设有三个统计量，平均值最大值最小值

   (5).校准： 可进行系统校准

   (6).电量： 具有欠压显示功能

   (7).打印： 可打印测量值，选配微型打印机

   (8).关机： 具有自动关机和手动关机两种方法

6、电源：            两节1.5v电池

7、功耗：            最大功耗100mw

8、外形尽寸：      51mm*126mm*27mm

9、重量：           160g（含电池）

10、使用环境温度：  0℃～+40℃  相对湿度：不大于90%

11、基体最小厚度：     0.5mm

12、基体最小平面的直径：   7mm

13、最小曲率半径：     凸:1.5mm      凹:6mm

14、欠电压指示：       右上角显示＂＂

*临界厚度小：工件铁基厚度大于1mm时,其涂（镀）层厚度的测量不受铁基厚度

三、MC-2000C型涂层测厚仪配置单

 MC-2000C说明书下载

   1、MC-2000C型涂镀层测厚仪                 一台

   2、七号电池                               二节

   3、探头                                   一支

   4、标准样片                               一盒

   5、小铝箱                                 一个

   6、说明书、合格证                         一套

 选配件：                                                               

    1、打印机及通讯打印连线                  1套  

    2、微机通讯软件                          1盘

3、内防腐探头

注意事项：

（１）测量曲面及圆柱体，曲率半径较小时，应在未涂覆的工件上校准，以保证测量精度。

（２）在曲率半径较小的凹面内测量时，应重新校正。

五、影响测量的若干因素：

基体金属磁化：磁性法测量受基体金属磁性变化的影响（在实际应用中，低碳钢磁性的变化可以认为是轻微的）。为了避免热处理、冷加工等因素的影响，应使用与镀件金属具有相同性质的铁基片上 对仪器进行校对。

基体金属厚度：每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度，大于这个厚度测量就不受基体厚度的影响。

边缘效应：本仪器对试片表面形状的陡变敏感，因此在靠近试片边缘或内转角处进行测量是不可靠的。

曲率：试件的曲率对测量有影响，这种影响是随着曲率半径减小明显增大。因此不应在试件超过允许的曲率半径的弯曲面上测量。

表面粗糙度：基体金属和表面粗糙度对测量有影响。粗糙度增大，影响增大。粗糙表面会引起系统误差和偶然误差。每次测量时，在不同位置上增加测量的次数，克服这种偶然误差。

如果基体金属粗糙还必须在未涂覆的粗糙相类似的基体金属试件上取几个位置校对仪器的零点；或用没有腐蚀性的溶液除去在基体金属上的覆盖层，再校对仪器零点。

磁场：周围各种电气设备所产生的强磁场，会严重地干扰磁性测量厚度的工作。

附着物质：本仪器对那些妨碍探头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感。因此必须清除附着物质，以保证探头与覆盖层表面直接接触。

探头的放置：探头的放置方式对测量有影响，在测量中使探头与试样表面保持垂直。

试片的变形：探头使软覆盖层试件变形，因此在这些试件上会出现不太可靠的数据。

读数次数：通常仪器的每次读数并不完全相同。因此必须在每一测量面积内取几个测量值，覆盖层厚度的局部差异，也要求在给定的面积内进行测量，表面粗糙时更应如此。