瓦楞纸板厚度测厚仪 测厚仪

规格:CHY-U

关键字：厚度测量仪,测厚仪,薄膜测厚仪,纸张厚度测厚仪,厚度测定仪

在包装材料中，薄膜的厚度测量是非常重要的一项性能检测。在薄膜中，如果它的厚度不均匀**会影响到薄膜各处的拉伸强度、阻隔性等，更会影响到薄膜的后续加工。对于复合薄膜，厚度的均匀性更加重要。

三泉中石生产的CHY-U台式包装材料厚度测定仪**是用来薄膜的厚度，准确度高，除此之外，还适用于2mm范围内各种薄膜、复合膜、纸张、金属箔片、锂电池隔膜等硬质和软质材料厚度的 测量。

技术参数               

测量范围：0-2mm （其他量程可定制）               

分辨率： 0.1um               

测量速度：10次/min（可调）               

测量压力：17.5±1kPa（薄膜）；100±1kPa（纸张）               

接触面积：50mm2（薄膜），200mm2（纸张） 注：薄膜、纸张任选一种               

进样步矩： 0 ～ 1300 mm(可调)               

进样速度：0 ～ 120 mm/s(可调)               

机器尺寸：450mm×340mm×390mm (长宽高)               

重    量：23Kg               

工作温度：15℃-50℃                            

试验环境：无震动，无电磁干扰               

工作电源：220V 50Hz          

技术特征 

1.配备微型打印机，数据实时显示、自动统计、打印，方便快捷地获取测试结果 。

2.可打印数值及每次测量结果，方便用户分析数据 。

3.仪器自动保存可达100组测试结果，随时查看并打印 。

4.标准量块标定,方便用户快速标定设备 。

5.配备专用自动进样器，可一键实现全自动多点测量，误差小。

6.软件提供测试结果图形统计分析，准确直观地将测试结果展示给用户。 

7.配备标准RS232接口，方便系统与电脑的外部连接和数据传输。