| 测量范围 | 0-30微米（mm） |
|---|---|
| 电源电压 | 3.0（V） |
| 类型 | 镀层测厚仪 |
| 外形尺寸 | 14.9*7.94*3.02厘米（mm） |
| 显示方式 | 数显 |
| 品牌 | 牛津 |
| 型号 | CMI-243 |
| 加工定制 | 否 |
优势：
1、采用基于相位的电涡流技术，集测量、价格合理、质量可靠的优势于一体的手持式测厚仪。
2、专为金属表面处理者设计。配置的单探头可测量，铁质底上所有金属镀层-即使在极小的、形状特殊的或表面粗糙的样品上都可以进行测量。
3、易于用户控制
4、为了让客户能以低成本购买CMI-243E免去了对多探头、操作培训和持续保养的需要。
测量技术：
一般的测试方法，例如一般测厚仪制造商所采用的普通磁感应和涡流方式，由于探头的" 升离效应" 导致的底材效应，和由于测试件形状和结构导致的干扰，都无法达到对金属性镀层厚度的测量。
牛津仪器将新的基于相位的电涡流技术应用到CMI-243E
牛津仪器对电涡流技术的独特应用，将底材效应化，使得测量且不受零件的几何形状影响。
另外，仪器一般不需要在铁质底材上进行校准。
基本配置包括：
| ECP-M探头及拆除指南 |
| Rs232串行电缆 |
| 校准用铁上镀锌标准片组 |
| 可单独选配SMTP-1(磁感应探头) |
测量范围：
| 铁上镀层 镀层厚度范围 探头 |
| Zn 0–38μm ECP-M |
| Cd ′ 0–38μm ECP-M |
| Cr 0–38μm ECP-M |
| Cu 0–10μm ECP-M |
技术参数及功能：
| |
| 分辨率：0.1μm |
| 电涡流：遵循DIN50984, BS5411 Part 3, ISO 2360, ISO 21968草案, ASTM B499, 及ASTM E376 |
| 存储量：26,500 条存储读数 |
| 尺寸：14.9 x 7.94 x 3.02 cm |
| 重量：0.26 kg 包括电池 |
| 单位：英制和公制的自动转换 |
| 接口：RS-232串行接口，波特率可调，用于下载至打印机或计算机 |
| 显示屏：三位数LCD液晶显示 |
| 电池：9伏碱性电池，65小时连续使用 |
| ECP-M探头：ECP-M探头专为较难测量的金属覆层设计，此单探头可以测量，铁质底材上几乎所有金属覆层，例如锌、镍、铜、铬和镉。更小的探针为极小的、形状特殊的或表面粗糙的零件提供了便捷的测量。 |
ECP-M探头规格(mm)
| 凸面半径 | 1.143 |
| 凹面半径 | 1.524 |
| 测量高度 | 101.6 |
| 测量直径 | 2.286 |
| 底材 | 304.8 |
CMI-243E是一款灵便、易用的仪器，专为金属表面处理者设计。配置的单探头可测量铁质底上所有金属镀层-即使在极小的、形状特殊的或表面粗糙的样品上都可以进行测量。这款测厚仪是紧固件行业应用的理想工具。采用基于相位的电涡流技术。
CMI-243E手持式测厚仪易于用户控制。为了让客户能以低成本购买。CMI-243E免去了对多探头、操作培训和持续保养的需要。
牛津涂层测厚仪
牛津仪器公司提供可靠的高一般的测试方法，例如一般测厚仪制造商所采用的普通磁感应和涡流方式，由于探头的" 升离效应" 导致的底材效
应，和由于测试件形状和结构导致的干扰，都无法达到对金属性镀层厚度的测量。
牛津仪器将的基于相位的电涡流技术应用到CMI-243E,牛津仪器对电涡流技术的独特应用，将底材效应使得测量且不受零件的几何形状影响。另外，仪器一般不需要在铁质底材上进行校准。ECP-M探头专为较难测量的金属覆层设计，此单探头可以测量
铁质底材上几乎所有金属覆层，例如锌、镍、铜、铬和镉。更小的探
针为极小的、形状特殊的或表面粗糙的零件提供了便捷的测量。