凭借电机驱动（可选）与自上而下的测量方向，XDL? 系列测量仪器能够进行自动化的批量测试。提供 X 射线源、滤波器、准直器以及探测器不同组合的多种型号，从而能够根据不同的测量需求选择适合的 X 射线仪器。

特性：

· X 射线荧光仪器可配备多种硬件组合，可完成各种测量任务

· 由于测量距离可以调节（可达 80 mm），适用于测试已布元器件的电路板或腔体结构的部件

· 通过可编程 XY 工作台与 Z 轴（可选）实现自动化的批量测试

· 使用具有高能量分辨率的硅漂移探测器，非常适用于测量超薄镀层（XDAL 设备）

应用：

镀层厚度测量

· 大型电路板与柔性电路板上的镀层测量

· 电路板上较薄的导电层和/或隔离层

· 复杂几何形状产品上的镀层

· 铬镀层，如经过装饰性镀铬处理的塑料制品

· 氮化铬 (CrN)、氮化钛 (TiN) 或氮碳化钛 (TiCN) 等硬质涂层厚度测量

材料分析

· 电镀槽液分析

· 电子和半导体行业中的功能性镀层分析

二、主要技术指标： 

1、测量原理：X射线荧光光谱法测量镀层厚度

2、测量方式：无损检测，可自动聚焦

3、元素测量范围: Cl（17）--U（92），可测量24种元素23层镀层。

★4、手动X/Y平台,移动范围≥95x150mm,可用工作台面≥420x450mm

5、电动Z轴，手动/自动聚焦，可移动范围≥140mm

★6、采用DCM（测量距离补偿法）可远距离对焦测量腔体样品，可达80mm深度

★7、满足可变高压30KV,40KV,50KV三种可调节，以满足不同的测试需求。

★8、准直器：φ0.3的圆形准直器

9、X射线探测器：比例接收器

10、统计计算：数据组带时间和时期功能，统计功能包含平均值、标准偏差等；还可输入公差范围，计算CP和Cpk值，超范围值时仪器应有自动报警提示功能

11、windows7以上中文操作界面，WinFTM专业测试软件，具备连接PC和打印机的USB借口

★12、测量误差：镀层厚度≥0.5um时，顶层镀层测量精度≤5%

★13、采用完全基本参数法，内置12纯元素频谱库，可实现无标准片校准情况下测量

★14 MQ值显示，用于判定测量程式是否与样品匹配，避免误操作

★15、标准片：配备12种基准纯元素（Ag,Cu,Fe,Ni,Zn,Zr,Mo,Sn,W,Au,Pb,Cr）。

16、具备高分辨率CCD摄像头，放大倍数40-160倍。

★17、仪器应具有环保部门出具的辐射豁免管理函

18、计算机控制系统：I5处理器，8G内存，500G硬盘，19寸液晶显示器，彩色喷墨打印机。

19、工作环境条件：操作温度范围：10℃~40℃；相对湿度：20%～80%；

厦门华屹仪器有限公司成立于福建省厦门市，是一家工业检测仪器一

站式服务供应商，专注于金属铸造、镀层测厚、机械工程、技术电镀、

图层分析等行业，提供配套检测仪器的销售、安装、调试及售后服务

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