ATX200涂层测厚仪概况

ATX200涂层测厚仪配置嵌入式传感器，采用磁性法，可用于无损测量磁性基体上非磁性涂镀层厚度，符合以下工业规范和标准： GB/T 4956磁性基体上非磁性覆盖层覆盖层厚度测量磁性法 JB/T 8393磁性和涡流式覆层厚度测量仪 DIN EN ISO 2178 ASTM B499 ;具有高精度、易操作、稳定，简单、可靠、可用于现场快速测量等特点，配置集成测量探头，可无损、快速、精密地进行磁性金属表面非磁性涂镀层厚度测量，易于操作，广泛应用于工业、电镀业、船舶、桥梁、航空、工程、化工等领域。

ATX200涂层测厚仪原理

ATX200涂层测厚仪的工作原理是基于以磁性法测量导磁性金属基体(如钢、铁、合金钢、硬磁性钢等，但不包括奥氏体钢和软磁性钢等)上非磁性涂镀层(如油漆、陶瓷、橡胶、铝、铬、铜、锡等)的厚度。当测头接触铁磁基体(或其他磁性金属)时形成一闭合磁路，由于涂镀层的存在，穿过线圈的磁通量与涂镀层厚度的变化会导致磁路磁阻发生变化，通过测量其变化便可通过计算导出涂镀层的厚度。

ATX200涂层测厚仪技术参数

l  测量方法:磁性法

l  测量范围:0-1250um(0-50mil)

l  分辨率:0-999um;0.1um          ≥1000um;1um

l  精度:≤100um;±2um          101-1250um;≤2.5%

l  数据存储:500 条

l  显示:带背光点阵液晶屏(128X64)

l  电源:1.5VX3(AAA 干电池)

l  使用温度:0-50°C

l  规格:128X51X31 mm

l  重量:110g

ATX200涂层测厚仪基本配置