| 测量方法 | 磁性 涡流 |
|---|---|
| 产地 | 北京 |
| 类型 | 涂层测厚仪 |
| 适用范围 | 涂镀层 油漆层 防腐层 |
| 外形尺寸 | 50×120×25mm |
| 重量 | 400g |
| 屏幕色彩 | 单色 |
| 品牌 | 时代检测 |
ATX220涂层测厚仪概述 ATX220涂层测厚仪是一款便携式涂镀层测量仪，它能快速、无损伤、精密的进行涂镀层厚度的测量。即可用于实验室，也可用于工程现场。通过更换不同的侧头，还可以满足多种测量的需要。ATX220涂层测厚仪能广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。是材料保护专用必备的仪器。ATX220涂层测厚仪符合以下标准：
- GB/T4956-1985 磁性方法
- GB/T4957-1985 涡流方法
- JB/T8393-1996 磁性和涡流覆层测厚仪
- JJG889-95 《磁阻法测厚仪》
- JJG818-93 《电涡流式测厚仪》 ATX220涂层测厚仪功能特点 采用了磁性和涡流两种测厚方法：既然无损地测量磁性金属基体(如钢、铁、合金等)上非磁性覆层厚度(如锌、铝、铬、铜、橡胶、油漆等）又可测量非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上非导电覆层厚度(如:橡胶、油漆、阳极氧化膜等) 可使用7种测头（F400、F1、F1/90°、F10、CN02、N1） 具有两种测量方式：连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE） 具有两种工作方式：直接方式（DIRECT）和成组方式（A-B） 设有五个统计量：平均值、最大值（MAX）、最小值（MIN）、测试次数（NO．）、标准偏差 可采用两种方法对仪器进行校准，并可用基本校准法对测头的系统误差进行修正 具有存贮功能：可存贮600个测量值 具有删除功能：对测量中出现的单个可疑数据进行删除，也可删除存贮区内的所有数据 可设置限界：对限界外的测量值能自动报警 具有电源欠压指示功能 操作过程有蜂鸣声提示 具有错误提示功能，通过屏显或蜂鸣声进行错误提示 设有两种关机方式：手动关机方式和自动关机方式 采用塑料外壳，轻便、耐用 ATX220涂层测厚仪技术参数 测头类型：可选，见涂层测厚仪探头参数表 测量范围：0-1250um | 0-1250um 0-40um(铜上镀铬) 低限分辨力：0.1um 探头连接方式：分体 示值误差：F | N 1. 一点校准(um)：±[2%H+1] 2. 两点校准(um)：±[（1%~3%）H+1] 3. 一点校准(um)：±[2%H+1.5] 4. 两点校准(um)：±[（1%~3%）H+1.5] 测量条件：F | N 1. 最小曲率半径(mm)：凸1.5 | 凹9 2. 基体最小面积的直径(mm)：ф7 3. 最小临界厚度(mm)：0.5 4. 最小曲率半径(mm)：凸3 | 凹10 5. 基体最小面积的直径(mm)：ф5 6. 最小临界厚度(mm)：0.3 温湿度：0~40℃ | 20%RH～90%RH 统计功能：平均值、最大值（MAX）、最小值（MIN）、测试次数（NO．）、标准偏差 工作方式：直接方式(DIRECT)和成组方式(Appl) 测量方式：连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE） 上下限设置：有 存储能力：500个测量值 关机方式：手动和自动 电源：两节1.5v电池 外形尺寸：50×120×25mm 重量：400g ATX220涂层测厚仪基本配置
ATX220涂层测厚仪主机 F测头或N测头 标准片一套 铁基体或铝基体 电池 使用说明书
涂层测厚仪探头
涂层测厚仪F1探头
- 工作原理：磁感应 | 分辨力：0.1um
- 测量范围：0-1250um
- 示值误差： 1、一点校准：±[3%H+1]um
2、两点校准：±[(1～3)%H+1]um
- 测量条件: 1、最小曲率半径：凸1.5mm
2、基体最小面积的直径：Ф7mm
3、最小临界厚度：0.5mm
- 探头尺寸：Ф12X47mm
- 测量条件: 1、最小曲率半径：凸1.5mm
涂层测厚仪N1探头- 工作原理：电涡流 | 分辨力：0.1um
- 测量范围：0-1250 | 铜上镀铬0-40um
- 示值误差： 1、一点校准：±[3%H+1]um
2、两点校准：±[(1～3)%H+1]um
- 测量条件: 1、最小曲率半径：凸3mm
2、基体最小面积的直径：Ф5mm
3、最小临界厚度：0.3mm
- 探头尺寸：Ф15X73mm
- 测量条件: 1、最小曲率半径：凸3mm
F1探头是磁性法测量的通用标准探头，测量范围0-1250um，基本覆盖大部分涂层厚度范围.
N1探头是涡流法测量的通用标准探头，测量范围0-1250um，基本覆盖大部分涂层厚度范围.
涂层测厚仪F400探头
- 工作原理：磁感应 | 分辨力：0.1um
- 测量范围：0-400um
- 示值误差： 1、一点校准：±[3%H+1]um
2、两点校准：±[(1～3)%H+0.7]um
- 测量条件: 1、最小曲率半径：凸1mm
2、基体最小面积的直径：Ф3mm
3、最小临界厚度：0.2mm
- 探头尺寸：Ф12X55mm
- 测量条件: 1、最小曲率半径：凸1mm
涂层测厚仪F10探头- 工作原理：磁感应 | 分辨力：10um
- 测量范围：0-10000um
- 示值误差： 1、一点校准：±[3%H+10]um
2、两点校准：±[(1～3)%H+10]um
- 测量条件: 1、最小曲率半径：凸10mm
2、基体最小面积的直径：Ф40mm
3、最小临界厚度：2mm
- 探头尺寸：Ф27X47mm
- 测量条件: 1、最小曲率半径：凸10mm
F400为选配探头，主要用于较薄厚度的涂层测量，可获得更的测量结果和更高的重复性，另外在管材基体直径较小或者被测区域接触面积较小时，F400探头也是较好的选择。
F10为选配探头，测量范围由标配的0-1250um扩展至0-10000um，主要用于大厚度的涂层测量。选配F10探头还应增配2000um、4000um、8000um的标准校准片，用于校准仪器。
涂层测厚仪F1|90探头
- 工作原理：磁感应 | 分辨力：0.1um
- 测量范围：0-1250um
- 示值误差： 1、一点校准：±[3%H+1]um
2、两点校准：±[(1～3)%H+1]um
- 测量条件: 1、最小曲率半径：平直
2、基体最小面积的直径：Ф7mm
3、最小临界厚度：0.5mm
- 探头尺寸：Ф7.5X11X200mm
- 测量条件: 1、最小曲率半径：平直
涂层测厚仪CN02探头- 工作原理：电涡流 | 分辨力：1um
- 测量范围：10-200um
- 示值误差： 1、一点校准：±[3%H+1]um
2、两点校准：—
- 测量条件: 1、最小曲率半径：平直
2、基体最小面积的直径：Ф7mm
3、最小临界厚度：无限制
- 探头尺寸：Ф16X67mm
- 测量条件: 1、最小曲率半径：平直
F1/90为选配探头，主要用于管材内壁的涂层厚度测量。它细长的身形可以轻松的深入其它探头无法到达的细管中；对于夹层和细缝中的涂层厚度也能很好的测量。
CN02为选配探头，主要用于测量线路板上的铜箔厚度，检测范围在10-200um之间。