本公司供应涂层测厚仪，品牌鲁科，型号LKTC2003。参数为：重量 90g，外形尺寸 50×95×24mm，电源 1节5#电池，有效测量范围 50μm～10000μm，测量精度 ＜3%±1。质量保证，欢迎咨询洽谈。

本公司供应涂层测厚仪，品牌鲁科，型号LKTC2003。参数为：重量 90g，外形尺寸 50×95×24mm，电源 1节5#电池，有效测量范围 50μm～10000μm，测量精度 ＜3%±1。质量保证，欢迎咨询洽谈。

本公司供应涂层测厚仪，品牌鲁科，型号LKTC2003。参数为：重量 90g，外形尺寸 50×95×24mm，电源 1节5#电池，有效测量范围 50μm～10000μm，测量精度 ＜3%±1。质量保证，欢迎咨询洽谈.

涂层测厚仪，可无损地测量磁性金属基体(如钢、铁、合金和硬磁性钢等)上非磁性涂层的厚度(如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆等) 及非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上非导电覆层的厚度(如:珐琅、橡胶、油漆、塑料等)。涂镀层测厚仪具有测量误差小、可靠性高、稳定性好、操作简便等特点，是控制和保证产品质量必不可少的检测仪器，广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。

 特性介绍

　　1.自动测量不会发生误操作

　　2.易于掌握并具有极高精度

　　3.不用校准、设定、检测简便

　　4.不需要电池或其他电源

　　5.自动报出厚度读值

　　6.用无损测头，一点测定数值

　　7.金属铠装适于室外频繁操作使用

　　8.抗机械冲击、耐酸及溶剂腐蚀

　　9.平衡装置消除地心引力影响，可在任意方向和管内准确测量。

3 基本功能

　　1、具有两种测量方式：连续测量方式(CONTINUE)和单次测量方式(SINGLE)；

　　2、具有两种工作方式：直接方式(DIRECT)和成组方式(Appl)；

　　3、设有五个统计量：平均值(MEAN)**大值(MAX)**小值(MIN)、测试次数(NO.)、标准偏差(S.DEV)；

　　4、可采用两种方法对仪器进行校准,并可用基本校准法对测头的系统误差进行修正；

　　5、具有存贮功能：可存贮500个测量值；

　　6、具有删除功能：对测量中出现的单个可疑数据进行删除，也可删除存贮区内的所有数据，以便进行新的测量；

　　7、可设置限界：对限界外的测量值能自动报警；并可用直方图对一批测量值进行分析；

　　8、具有打印功能：可打印测量值、统计值、限界、直方图；

　　9、具有与PC机通讯的功能：可将测量值、统计值传输至PC机，以便对数据进行进一步处理；

　　10、设有两种关机方式：手动关机方式和自动关机方式。

4 **技术

　　现在有一款新型的涂层测厚仪，它采用的是**的磁感技术。也**是我们知道的霍尔效应，霍尔于1879年发现的。通过研究霍尔电压与工作电流的关系，测量电磁铁磁场、磁导率、研究霍尔电压与磁场的关系,霍尔发现这个电位差UH与电流强度IH成正比，与磁感应强度B成正比，与薄片的厚度d成反比。这个磁场是**变成规则的。该原理运用在涂层测厚仪上面**无需再调测试片了。特别是测量圆弧的或凹面的产品时，使用更为简单和方便了。

5 有关说明

　　a 基体金属磁性质

　　磁性法测厚受基体金属磁性变化的影响（在实际应用中，低碳钢磁性的变化可以认为是轻微的），为了避免热处理和冷加工因素的影响，应使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准；亦可用待涂覆试件进行校准。

　　b 基体金属电性质

　　基体金属的电导率对测量有影响，而基体金属的电导率与其材料成分及热处理方法有关。使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准。

　　c 基体金属厚度

　　每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度。大于这个厚度，测量**不受基体金属厚度的影响。本仪器的临界厚度值见附表1。

　　d 边缘效应

　　本仪器对试件表面形状的陡变敏感。因此在靠近试件边缘或内转角处进行测量是不可靠的。

　　e 曲率

　　试件的曲率对测量有影响。这种影响总是随着曲率半径的减少明显地增大。因此，在弯曲试件的表面上测量是不可靠的。

　　f 试件的变形

　　测头会使软覆盖层试件变形，因此在这些试件上测出可靠的数据。

　　g 表面粗糙度

　　基体金属和覆盖层的表面粗糙程度对测量有影响。粗糙程度增大，影响增大。粗糙表面会引起系统误差和偶然误差，每次测量时，在不同位置上应增加测量的次数，以克服这种偶然误差。如果基体金属粗糙，还必须在未涂覆的粗糙度相类似的基体金属试件上取几个位置校对仪器的零点；或用对基体金属没有腐蚀的溶液溶解除去覆盖层后，再校对仪器的零点。

　　g 磁场

　　周围各种电气设备所产生的强磁场，会严重地干扰磁性法测厚工作。

　　h 附着物质

　　本仪器对那些妨碍测头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感，因此，必须清除附着物质，以保证仪器测头和被测试件表面直接接触。

　　i 测头压力

　　测头置于试件上所施加的压力大小会影响测量的读数，因此，要保持压力恒定。

　　j 测头的取向

　　测头的放置方式对测量有影响。在测量中，应当使测头与试样表面保持垂直。

6 遵守规定

　　a 基体金属特性

　　对于磁性方法，标准片的基体金属的磁性和表面粗糙度，应当与试件基体金属的磁性和表面粗糙度相似。

　　对于涡流方法，标准片基体金属的电性质，应当与试件基体金属的电性质相似。

　　b 基体金属厚度

　　检查基体金属厚度是否超过临界厚度，如果没有，可采用3.3中的某种方法进行校准。

　　c 边缘效应

　　不应在紧靠试件的突变处，如边缘、洞和内转角等处进行测量。

　　d 曲率

　　不应在试件的弯曲表面上测量。

　　e 读数次数

　　通常由于仪器的每次读数并不完全相同，因此必须在每一测量面积内取几个读数。覆盖层厚度的局部差异，也要求在任一给定的面积内进行多次测量，表面粗造时更应如此。

　　f 表面清洁度

　　测量前，应清除表面上的任何附着物质，如尘土、油脂及腐蚀产物等，但不要除去任何覆盖层物质